InP的MOVPE生长


Autoria(s): 刘祥林; 陆大成; 王晓晖; 汪度; 董建荣
Data(s)

1996

Resumo

利用常压MOVPE设备和国产的三甲基铟以及进口的磷烷生长了InP处延材料,其77K迁移 率为65300cm~2/V·s,是国内迄今为止用各种方法获得的InP薄膜的最大低温迁移率值.

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/19597

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/104436

Idioma(s)

中文

Fonte

刘祥林;陆大成;王晓晖;汪度;董建荣.InP的MOVPE生长,光子学报,1996,25(2):153

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文