纳米硅薄膜的生长动力学与计算机模拟


Autoria(s): 林鸿溢; 武旭辉; 何宇亮; 褚一鸣
Data(s)

1996

Resumo

在等离子体增强化学气相淀积(PECVD)系统中,以高纯H_2高度稀释SiH_4为反应气体源,在射频和直流双重功率源的激励下制备成功具有纳米结构的nc-Si:H薄膜,利用高分辨率电子显微镜(HREM),Raman散射谱(RSS),扫描隧道电子显微镜(STM)等实验技术对nc-Si:H薄膜样品作了研究.基于对薄膜制备过程的动力学分析,提出nc-Si:H薄膜的分形生长模型:扩散与反应限制凝聚模型.其结果与实验符合得很好.

在等离子体增强化学气相淀积(PECVD)系统中,以高纯H_2高度稀释SiH_4为反应气体源,在射频和直流双重功率源的激励下制备成功具有纳米结构的nc-Si:H薄膜,利用高分辨率电子显微镜(HREM),Raman散射谱(RSS),扫描隧道电子显微镜(STM)等实验技术对nc-Si:H薄膜样品作了研究.基于对薄膜制备过程的动力学分析,提出nc-Si:H薄膜的分形生长模型:扩散与反应限制凝聚模型.其结果与实验符合得很好.

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国家自然科学基金

北京理工大学电子工程系;北京航空航天大学物理系;中科院半导体所

国家自然科学基金

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/19545

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/104410

Idioma(s)

中文

Fonte

林鸿溢;武旭辉;何宇亮;褚一鸣.纳米硅薄膜的生长动力学与计算机模拟,物理学报,1996,45(4):655

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文