硅双极晶体管的低温h_(FE)
Data(s) |
1997
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Resumo |
低温下h_(FE)主要决定于发射效率γ和集电区倍增因子M。影响γ的是禁带收缩和基区费米能级。M则主要由中性杂质被碰撞电离而造成的电流倍增效应决定,并且这是一种自抑制效应。以上观点与实验结果基本相符合。 |
Identificador | |
Idioma(s) |
中文 |
Fonte |
薄仕群;林兆军.硅双极晶体管的低温h_(FE),半导体学报,1997,18(6):454 |
Palavras-Chave | #微电子学 |
Tipo |
期刊论文 |