硅双极晶体管的低温h_(FE)


Autoria(s): 薄仕群; 林兆军
Data(s)

1997

Resumo

低温下h_(FE)主要决定于发射效率γ和集电区倍增因子M。影响γ的是禁带收缩和基区费米能级。M则主要由中性杂质被碰撞电离而造成的电流倍增效应决定,并且这是一种自抑制效应。以上观点与实验结果基本相符合。

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/19461

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/104368

Idioma(s)

中文

Fonte

薄仕群;林兆军.硅双极晶体管的低温h_(FE),半导体学报,1997,18(6):454

Palavras-Chave #微电子学
Tipo

期刊论文