Si非平面衬底上SiGe/Si量子阱的光致发光特性


Autoria(s): 杨沁清; 钱毅; 董文甫; 王启明; 崔堑; 黄绮; 周均铭
Data(s)

1997

Resumo

采用一种晶向性腐蚀方法,在(100)Si平面衬底上腐蚀得到一种非平面结构,经SiGeMBE外延后,从SEM照片上可以看出,SiGe外延层是一种量子点、线和阱的混合结构.非平面结构上的SiGe层的发光强度为平面结构上的8~10倍.从SiGe层内发出的发光强度占样品总发光强度的96%,且m≈1.1的值表明外延层的质量及对载流子的收集效率是高的.随着激发功率的增加,可以看到PL谱的蓝移.

采用一种晶向性腐蚀方法,在(100)Si平面衬底上腐蚀得到一种非平面结构,经SiGeMBE外延后,从SEM照片上可以看出,SiGe外延层是一种量子点、线和阱的混合结构.非平面结构上的SiGe层的发光强度为平面结构上的8~10倍.从SiGe层内发出的发光强度占样品总发光强度的96%,且m≈1.1的值表明外延层的质量及对载流子的收集效率是高的.随着激发功率的增加,可以看到PL谱的蓝移.

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国家863计划

中科院半导体所;中科院物理所

国家863计划

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/19409

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/104342

Idioma(s)

中文

Fonte

杨沁清;钱毅;董文甫;王启明;崔堑;黄绮;周均铭.Si非平面衬底上SiGe/Si量子阱的光致发光特性,半导体学报,1997,18(1):10

Palavras-Chave #光电子学
Tipo

期刊论文