高光敏性高稳定性氢化非晶硅薄膜的研制


Autoria(s): 盛殊然; 廖显伯; 孔光临; 刁宏伟
Data(s)

1997

Resumo

采用“不间断生长/退火”技术,并配之以微量硼补偿,制备了高性能的氢化非晶硅薄膜(a-Si:H),其光敏性(σ_(ph)σ_d)达到10~6)量级,并且稳定性得以显著提高,在100mW/cm~2的白光长时间照射后没有观察到衰退现象。分析指出

采用“不间断生长/退火”技术,并配之以微量硼补偿,制备了高性能的氢化非晶硅薄膜(a-Si:H),其光敏性(σ_(ph)σ_d)达到10~6)量级,并且稳定性得以显著提高,在100mW/cm~2的白光长时间照射后没有观察到衰退现象。分析指出

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国家自然科学基金

中科院半导体所

国家自然科学基金

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/19305

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/104290

Idioma(s)

中文

Fonte

盛殊然;廖显伯;孔光临;刁宏伟.高光敏性高稳定性氢化非晶硅薄膜的研制,中国科学. A辑,数学 ,1997,27(7):653

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文