InAs薄膜Hall器件的材料生长与特性研究


Autoria(s): 王红梅; 曾一平; 周宏伟; 董建荣; 潘栋; 潘量; 孔梅影
Data(s)

1998

Resumo

报道了利用InAs外延薄膜制作霍尔器件,通过分子束外延技术在GaAs衬底上生长的InAs薄膜具有较高的迁移率和较好的温度特性。用这种材料制作的霍尔器件在每千欧姆内阻条件下灵敏度与GaAs平面Hall器件相比提高了50%。

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/19249

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/104262

Idioma(s)

中文

Fonte

王红梅;曾一平;周宏伟;董建荣;潘栋;潘量;孔梅影.InAs薄膜Hall器件的材料生长与特性研究,半导体学报,1998,19(6):413

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文