InAs薄膜Hall器件的材料生长与特性研究
Data(s) |
1998
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Resumo |
报道了利用InAs外延薄膜制作霍尔器件,通过分子束外延技术在GaAs衬底上生长的InAs薄膜具有较高的迁移率和较好的温度特性。用这种材料制作的霍尔器件在每千欧姆内阻条件下灵敏度与GaAs平面Hall器件相比提高了50%。 |
Identificador | |
Idioma(s) |
中文 |
Fonte |
王红梅;曾一平;周宏伟;董建荣;潘栋;潘量;孔梅影.InAs薄膜Hall器件的材料生长与特性研究,半导体学报,1998,19(6):413 |
Palavras-Chave | #半导体材料 |
Tipo |
期刊论文 |