GaN压电效应对载流子浓度的影响


Autoria(s): 张剑平; 王晓亮; 孙殿照; 李晓兵; 傅荣辉; 孔梅影
Data(s)

1998

Resumo

在NH_3源GSMBE生长的GaN中观察到较大的双轴张应变。随着张应变的增加光致发光谱带边峰展宽,Hall测试得到的背景电子浓度增大。该文应用GaN的压电效应对此进行了解释。

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/19199

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/104237

Idioma(s)

中文

Fonte

张剑平;王晓亮;孙殿照;李晓兵;傅荣辉;孔梅影.GaN压电效应对载流子浓度的影响,半导体学报,1998,19(7):498

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文