GaN压电效应对载流子浓度的影响
Data(s) |
1998
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Resumo |
在NH_3源GSMBE生长的GaN中观察到较大的双轴张应变。随着张应变的增加光致发光谱带边峰展宽,Hall测试得到的背景电子浓度增大。该文应用GaN的压电效应对此进行了解释。 |
Identificador | |
Idioma(s) |
中文 |
Fonte |
张剑平;王晓亮;孙殿照;李晓兵;傅荣辉;孔梅影.GaN压电效应对载流子浓度的影响,半导体学报,1998,19(7):498 |
Palavras-Chave | #半导体材料 |
Tipo |
期刊论文 |