大电流（直流）冲击试验对-族氮化物异质结深电子态的影响
| Data(s) |
1999
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| Resumo |
于2010-11-23批量导入 zhangdi于2010-11-23 13:11:10导入数据到SEMI-IR的IR Made available in DSpace on 2010-11-23T05:11:10Z (GMT). No. of bitstreams: 1 5497.pdf: 134155 bytes, checksum: efd5688ce371fa9eeb70a2c4e2a4d9f8 (MD5) Previous issue date: 香港科技大学研究基金,国家自然科学基金,半导体材料科学开放实验室基金 中科院半导体所;香港科技大学物理系;香港理工大学电子工程系 香港科技大学研究基金,国家自然科学基金,半导体材料科学开放实验室基金 |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
中文 |
| Fonte |
卢励吾;张砚华;Ge Weikun;Ho W Y;Surya Charles;Tongc K Y.大电流（直流）冲击试验对-族氮化物异质结深电子态的影响,半导体学报,1999(8,667(0): |
| Palavras-Chave | #半导体材料 |
| Tipo |
期刊论文 |
