界面态对AlGaAs/GaAs HEMT直流输出特性的影响


Autoria(s): 张兴宏; 程知群; 夏冠群; 徐元森; 杨玉芬; 王占国
Data(s)

1999

Resumo

利用高电子迁移率晶体管(HEMT)的直流输出分析模型,首次定量地分析了界面态对AlGaAs/GaAs HEMT直流输出特性的影响。考虑界面态的作用,详细分析了不同界面态密度对HEMT的I-V特性和器件跨导的影响。研究结果表明随着界面态密度的增加,栅极电压对电流的控制能力减小,从而使器件的跨导减小。

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18863

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/104069

Idioma(s)

中文

Fonte

张兴宏;程知群;夏冠群;徐元森;杨玉芬;王占国.界面态对AlGaAs/GaAs HEMT直流输出特性的影响,半导体学报,1999,20(11):989

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文