MOCVD生长的高质量掺碳GaAs/AlGaAs材料的特性研究
Data(s) |
2000
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Resumo |
利用低压金属有机化合物汽相淀积方法,以液态CCl_4为掺杂源生长了高质量的碳掺杂GaAs/AlGaAs外延材料,研究了CCl4流量、生长温度和Ⅴ/Ⅲ比等因素对外延材料中的碳掺杂水平的影响。采用电化学CV方法、范德堡霍耳方法、低温光致发光谱和X射线双晶衍射回摆曲线测量等方法对碳掺杂外延材料的电学、光学特性进行了研究。实验制备了空穴浓度高达1.9×10~(20)cm~(-3)的碳掺杂GaAs外延材料和低温光致发光谱半宽小于5nm的高质量碳掺杂Al_(0.3Ga_(0.7)As外延层。在材料研究的基础上,我们以碳为P型掺杂剂生长了GaAs/AlGaAs/InGaAs应变量子进980nm大功率半导体激光器结构,并获得了室温连续工作1W以上的光功率输出。 利用低压金属有机化合物汽相淀积方法,以液态CCl_4为掺杂源生长了高质量的碳掺杂GaAs/AlGaAs外延材料,研究了CCl4流量、生长温度和Ⅴ/Ⅲ比等因素对外延材料中的碳掺杂水平的影响。采用电化学CV方法、范德堡霍耳方法、低温光致发光谱和X射线双晶衍射回摆曲线测量等方法对碳掺杂外延材料的电学、光学特性进行了研究。实验制备了空穴浓度高达1.9×10~(20)cm~(-3)的碳掺杂GaAs外延材料和低温光致发光谱半宽小于5nm的高质量碳掺杂Al_(0.3Ga_(0.7)As外延层。在材料研究的基础上,我们以碳为P型掺杂剂生长了GaAs/AlGaAs/InGaAs应变量子进980nm大功率半导体激光器结构,并获得了室温连续工作1W以上的光功率输出。 于2010-11-23批量导入 zhangdi于2010-11-23 13:10:54导入数据到SEMI-IR的IR Made available in DSpace on 2010-11-23T05:10:54Z (GMT). No. of bitstreams: 1 5467.pdf: 231724 bytes, checksum: 4b6fa05be8f029d0f58b525d460db611 (MD5) Previous issue date: 2000 北京市科委课题,北京市自然科学基金,国家自然科学基金 北京工业大学电子工程系;中科院半导体所 北京市科委课题,北京市自然科学基金,国家自然科学基金 |
Identificador | |
Idioma(s) |
中文 |
Fonte |
廉鹏;邹德恕;高国;殷涛;陈昌华;徐遵图;陈建新;沈光地;曹青;马骁宇;陈良惠.MOCVD生长的高质量掺碳GaAs/AlGaAs材料的特性研究,半导体学报,2000,21(1):44 |
Palavras-Chave | #半导体材料 |
Tipo |
期刊论文 |