UHV/CVD外延生长SiGe/Si表面反应动力学


Autoria(s): 于卓; 李代宗; 成步文; 黄昌俊; 雷震霖; 余金中; 王启明; 梁骏吾
Data(s)

2000

Resumo

利用SiH_4和GeH_4作为源气体,对UHV/CVD生长Si_(1-x)Ge_x/Si外延层的表面反应机理进行了研究,通过TPD、RHEED等实验观察了Si(100)表面SiH_4的饱和吸附、热脱附过程,得出SiH_4的分解应该是每个SiH_4分子的4个H原子全部都吸附到了Si表面,SiH_4的吸附率正比于表面空位的4次方,并分析了GeH_4的表面吸附机制。在此基础上建立了UHV/CVD生长Si_(1-x)Ge_x/Si的表面反应动力学模型,利用模型对实验结果进行了模拟,二者符合得很好。

利用SiH_4和GeH_4作为源气体,对UHV/CVD生长Si_(1-x)Ge_x/Si外延层的表面反应机理进行了研究,通过TPD、RHEED等实验观察了Si(100)表面SiH_4的饱和吸附、热脱附过程,得出SiH_4的分解应该是每个SiH_4分子的4个H原子全部都吸附到了Si表面,SiH_4的吸附率正比于表面空位的4次方,并分析了GeH_4的表面吸附机制。在此基础上建立了UHV/CVD生长Si_(1-x)Ge_x/Si的表面反应动力学模型,利用模型对实验结果进行了模拟,二者符合得很好。

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国家自然科学基金,国家863计划

中科院半导体所

国家自然科学基金,国家863计划

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18787

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/104031

Idioma(s)

中文

Fonte

于卓;李代宗;成步文;黄昌俊;雷震霖;余金中;王启明;梁骏吾.UHV/CVD外延生长SiGe/Si表面反应动力学,半导体学报,2000,21(6):564

Palavras-Chave #光电子学
Tipo

期刊论文