MBE生长的高质量AlGaAs/InGaAs双δ掺杂PHEMT结构的材料


Autoria(s): 曹昕; 曾一平; 孔梅影; 王保强; 潘量; 张??; 朱战萍
Data(s)

2000

Resumo

用MBE方法制备的PHEMT微结构材料,其2DEG浓度随材料结构的不同在2.0-4.0×10~(12)cm~(-2)之间,室温霍耳迁移率在5000-6500cm~2·V~(-1)·s~(-1)之间。制备的PHEMT器件,栅长为0.7μm的器件的直流特性:I_(dss)~280mA/mm,I_(max)~520-580mA/mm,g_m~320-400mS/mm,BV_(DS)>15V(I_(DS)=1mA/mm),BV_(GS)>10V,微波特性:P_0~600-900mW/mm,G~6-10dB,η_(add)~40-60%;栅长为0.4μm的器件的直流特性:I_(max)~800mA/mm,g_m>400mS/mm。

国家九五计划

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18759

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/104017

Idioma(s)

中文

Fonte

曹昕;曾一平;孔梅影;王保强;潘量;张??;朱战萍.MBE生长的高质量AlGaAs/InGaAs双δ掺杂PHEMT结构的材料,半导体学报,2000,21(9):934

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文