不同尺寸分布的自组织In_(0.55)Al_(0.45)As/Al_(0.5)Ga_(0.5)As量子点的静压光谱


Autoria(s): 陈晔; 张旺; 李国华; 韩和相; 汪兆平; 周伟; 王占国
Data(s)

2000

Resumo

在15K测量了不同尺寸分布的In_(0.55)Al_(0.45)As/Al_(0.5)Ga_(0.5)As量子点的静压我致发光,静压范围为0--1.3GPa。常压下观察到三个发光峰,分别来源于不同尺寸的量子点(横向直径分别为26、52和62nm)的发光。它产的压力系数分别为82、94和98meV/GPa,都小于In_(0.55)Al_(0.45)As体材料带边的压力系数,特别是尺寸为26nm的小量子点比In_(0.55)Al_(0.45)As体材料带边小17%,并且压力系数随量子点尺寸的变小而减小。理论计算表明有效质量的增在和Γ-X混合是量子点压力系数变小的主要原因,并得到横向直径为26和52nm的小量子点的Γ-X混合势为15和10meV。根据实验还确定In_(0.55)Al_(0.45)As/Al_(0.5)Ga_(0.5)As量子点系统X能带具有Ⅱ类结构,并且估算出价带不连续量为0.15±0.02。

在15K测量了不同尺寸分布的In_(0.55)Al_(0.45)As/Al_(0.5)Ga_(0.5)As量子点的静压我致发光,静压范围为0--1.3GPa。常压下观察到三个发光峰,分别来源于不同尺寸的量子点(横向直径分别为26、52和62nm)的发光。它产的压力系数分别为82、94和98meV/GPa,都小于In_(0.55)Al_(0.45)As体材料带边的压力系数,特别是尺寸为26nm的小量子点比In_(0.55)Al_(0.45)As体材料带边小17%,并且压力系数随量子点尺寸的变小而减小。理论计算表明有效质量的增在和Γ-X混合是量子点压力系数变小的主要原因,并得到横向直径为26和52nm的小量子点的Γ-X混合势为15和10meV。根据实验还确定In_(0.55)Al_(0.45)As/Al_(0.5)Ga_(0.5)As量子点系统X能带具有Ⅱ类结构,并且估算出价带不连续量为0.15±0.02。

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国家自然科学基金

中科院半导体所

国家自然科学基金

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18743

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/104009

Idioma(s)

中文

Fonte

陈晔;张旺;李国华;韩和相;汪兆平;周伟;王占国.不同尺寸分布的自组织In_(0.55)Al_(0.45)As/Al_(0.5)Ga_(0.5)As量子点的静压光谱,半导体学报,2000,21(11):1092

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文