高精度单向模拟开关的设计及其基于CMOS工艺的电路实现
Data(s) |
2000
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Resumo |
提出并设计了一种基于CMOS工艺实现的高速高精度的单向隔离模拟开关,该开关用在高速两步法A/D转换器中使电路结构大为简化。通过对开关特性的理论分析与电路模拟,证明了这种模拟开关具有高速可控性,传输信号的精度优于先前研究的双极单向隔离模拟开关。 提出并设计了一种基于CMOS工艺实现的高速高精度的单向隔离模拟开关,该开关用在高速两步法A/D转换器中使电路结构大为简化。通过对开关特性的理论分析与电路模拟,证明了这种模拟开关具有高速可控性,传输信号的精度优于先前研究的双极单向隔离模拟开关。 于2010-11-23批量导入 zhangdi于2010-11-23 13:10:37导入数据到SEMI-IR的IR Made available in DSpace on 2010-11-23T05:10:37Z (GMT). No. of bitstreams: 1 5415.pdf: 341582 bytes, checksum: 3da90119689527ed8548dade0a67d85d (MD5) Previous issue date: 2000 中科院半导体所 |
Identificador | |
Idioma(s) |
中文 |
Fonte |
兀革;石寅.高精度单向模拟开关的设计及其基于CMOS工艺的电路实现,半导体学报,2000,21(12):1214 |
Palavras-Chave | #微电子学 |
Tipo |
期刊论文 |