6H-SiC高反压台面pn结二极管
Data(s) |
2001
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Resumo |
在可商业获得的单晶6H-SiC晶片上,通过化学气相淀积,进行同质外延生长;并在此6H-SiC结构材料上,利用反应离子刻蚀和接触合金化技术,制作台面pn结二极管。详细测量并分析了器件的电学特性,测量结果表明此6H-SiC二极管在室温、空气介质中,-10V时,漏电流密度为2.4×10~(-8)A/cm~2,在反向电压低于600V及接近300℃高温下都具有良好的整流特性。 |
Identificador | |
Idioma(s) |
中文 |
Fonte |
王姝睿;刘忠立;李晋闽;王良臣;徐萍.6H-SiC高反压台面pn结二极管,半导体学报,2001,22(4):507 |
Palavras-Chave | #半导体器件 |
Tipo |
期刊论文 |