GaAs太阳电池的质子辐照和退火效应(英文)


Autoria(s): 向贤碧; 杜文会; 廖显伯; 常秀兰
Data(s)

2001

Resumo

对AlGaAs/GaAs太阳电池进行了质子辐照和热退火实验。质子辐照的能量为325keV,辐照的剂量为5×10~(10)-1×10~(13)cm~(-2)。实验结果表明,质子辐照造成了GaAs太阳电池光伏性能的退化,其中短路电流的退化比其它参数的退化更为明显。退火实验结果表明,200℃的低温退火可以使得辐照后的电池的光伏性能得以部分恢复。此外,实验结果还指出,在GaAs太阳电池表面加盖一层0.5mm的硼硅玻璃盖片可以明显地减少质子辐照对GaAs太阳电池性能的损伤。

对AlGaAs/GaAs太阳电池进行了质子辐照和热退火实验。质子辐照的能量为325keV,辐照的剂量为5×10~(10)-1×10~(13)cm~(-2)。实验结果表明,质子辐照造成了GaAs太阳电池光伏性能的退化,其中短路电流的退化比其它参数的退化更为明显。退火实验结果表明,200℃的低温退火可以使得辐照后的电池的光伏性能得以部分恢复。此外,实验结果还指出,在GaAs太阳电池表面加盖一层0.5mm的硼硅玻璃盖片可以明显地减少质子辐照对GaAs太阳电池性能的损伤。

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国家自然科学基金

中科院半导体所

国家自然科学基金

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18679

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103977

Idioma(s)

中文

Fonte

向贤碧;杜文会;廖显伯;常秀兰.GaAs太阳电池的质子辐照和退火效应(英文),半导体学报,2001,22(6):710

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文