GaAs太阳电池的质子辐照和退火效应(英文)
Data(s) |
2001
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Resumo |
对AlGaAs/GaAs太阳电池进行了质子辐照和热退火实验。质子辐照的能量为325keV,辐照的剂量为5×10~(10)-1×10~(13)cm~(-2)。实验结果表明,质子辐照造成了GaAs太阳电池光伏性能的退化,其中短路电流的退化比其它参数的退化更为明显。退火实验结果表明,200℃的低温退火可以使得辐照后的电池的光伏性能得以部分恢复。此外,实验结果还指出,在GaAs太阳电池表面加盖一层0.5mm的硼硅玻璃盖片可以明显地减少质子辐照对GaAs太阳电池性能的损伤。 对AlGaAs/GaAs太阳电池进行了质子辐照和热退火实验。质子辐照的能量为325keV,辐照的剂量为5×10~(10)-1×10~(13)cm~(-2)。实验结果表明,质子辐照造成了GaAs太阳电池光伏性能的退化,其中短路电流的退化比其它参数的退化更为明显。退火实验结果表明,200℃的低温退火可以使得辐照后的电池的光伏性能得以部分恢复。此外,实验结果还指出,在GaAs太阳电池表面加盖一层0.5mm的硼硅玻璃盖片可以明显地减少质子辐照对GaAs太阳电池性能的损伤。 于2010-11-23批量导入 zhangdi于2010-11-23 13:10:29导入数据到SEMI-IR的IR Made available in DSpace on 2010-11-23T05:10:29Z (GMT). No. of bitstreams: 1 5387.pdf: 313974 bytes, checksum: a65f5bedcfaa2200d171c7d80af6befe (MD5) Previous issue date: 2001 国家自然科学基金 中科院半导体所 国家自然科学基金 |
Identificador | |
Idioma(s) |
中文 |
Fonte |
向贤碧;杜文会;廖显伯;常秀兰.GaAs太阳电池的质子辐照和退火效应(英文),半导体学报,2001,22(6):710 |
Palavras-Chave | #半导体材料 |
Tipo |
期刊论文 |