部分耗尽CMOS/SOI工艺


Autoria(s): 刘新宇; 孙海峰; 陈焕章; 扈焕章; 海潮和; 刘忠立; 和致经; 吴德馨
Data(s)

2001

Resumo

对部分耗尽CMOS/SOI工艺进行了研究,成功地开发出成套部分耗尽CMOS/SOI抗辐照工艺。其关键工艺技术包括

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18669

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103972

Idioma(s)

中文

Fonte

刘新宇;孙海峰;陈焕章;扈焕章;海潮和;刘忠立;和致经;吴德馨.部分耗尽CMOS/SOI工艺,半导体学报,2001,22(6):806

Palavras-Chave #微电子学
Tipo

期刊论文