分子束外延InAs量子点材料的透射电子显微镜研究
| Data(s) |
1999
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| Resumo |
报道了利用分子束外延技术在(001)GaAs衬底上生长的单层及多层InAs量子点材料的透射电子显微镜(TEM)研究结果，并对量子点的结构特性进行邓讨论。结果表明 国家自然科学基金 |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
中文 |
| Fonte |
白元强;莫庆伟;范缇文.分子束外延InAs量子点材料的透射电子显微镜研究,北京科技大学学报,1999,21(2):182 |
| Palavras-Chave | #半导体材料 |
| Tipo |
期刊论文 |
