EBIC测定GaPLPE样片的少子扩散长度

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Autoria(s): 李永良; 杨锡震; 周燕; 李承基; 李蕴言

Data(s)	2000
Identificador	http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18545 http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103910
Idioma(s)	中文
Fonte	李永良;杨锡震;周燕;李承基;李蕴言.EBIC测定GaPLPE样片的少子扩散长度,电子显微学报,2000,19(4):581
Palavras-Chave	#半导体材料
Tipo	期刊论文