用Z扫描法测量a-Si/SiO_2多量子阱材料非线性折射率
| Data(s) |
1999
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|---|---|
| Resumo |
国家自然科学基金 |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
中文 |
| Fonte |
周赢武;郭亨群;成步文.用Z扫描法测量a-Si/SiO_2多量子阱材料非线性折射率,光电子·激光,1999,10(5):431 |
| Palavras-Chave | #半导体材料 |
| Tipo |
期刊论文 |
