InAs自组织生长量子点的空穴俘获势垒


Autoria(s): 王海龙; 朱海军; 宁东; 陈枫; 封松林
Data(s)

1999

Resumo

成功地用深能级瞬态谱(DLIS)研究了p型InAs自组织生长的量子点的电学性质,测得2.5原子层InAs量子点空穴基态能级在GaAs价带底上约0.09eV,该量子点在荷电状态发生变化时需要克服一个势垒,俘获势垒高度为0.26eV。首次利用DLTS测定了量子点空穴的基态能级和俘获势垒,相信对增加量子点性质的理解会起到有益的帮助。

成功地用深能级瞬态谱(DLIS)研究了p型InAs自组织生长的量子点的电学性质,测得2.5原子层InAs量子点空穴基态能级在GaAs价带底上约0.09eV,该量子点在荷电状态发生变化时需要克服一个势垒,俘获势垒高度为0.26eV。首次利用DLTS测定了量子点空穴的基态能级和俘获势垒,相信对增加量子点性质的理解会起到有益的帮助。

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国家攀登计划,国家自然科学基金

中科院半导体所

国家攀登计划,国家自然科学基金

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18373

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103824

Idioma(s)

中文

Fonte

王海龙;朱海军;宁东;陈枫;封松林.InAs自组织生长量子点的空穴俘获势垒,红外与毫米波学报,1999,18(5):397

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文