赝形δ掺杂 AlGaAs/InGa As/GaAs量子阱的光致发光性质研究


Autoria(s): 王晓光; 常勇; 桂永胜; 褚君浩; 曹昕; 曾一平; 孔梅影
Data(s)

2000

Resumo

测量了一系列不同隔离层(spacer)厚度、阱宽和硅δ掺杂浓度的单边掺杂的赝形高电子迁移率晶体管(p-HEMTs)量子阱的变温和变激发功率光致发光谱,详细研究了(el-hh1)和(e2-hh1)两个发光峰之间的动态竞争发光机制,并运用有限差分法自洽求解薛定谔和泊松方程以得出电子限制势、子带能级以及相应的电子包络波函数、子带占据几率和δ掺杂电子转移效率,研究了两个峰的相对积分发光强度随隔离层厚度、阱宽和δ掺杂浓度的变化。

国家自然科学基金,国家九五计划

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18357

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103816

Idioma(s)

中文

Fonte

王晓光;常勇;桂永胜;褚君浩;曹昕;曾一平;孔梅影.赝形δ掺杂 AlGaAs/InGa As/GaAs量子阱的光致发光性质研究,红外与毫米波学报,2000,19(5):333

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文