InAs/GaAs低维结构中载流子快速俘获过程的研究


Autoria(s): 李晴; 徐仲英; 葛惟昆
Data(s)

2000

Resumo

用简并激发-探测技术研究了77K温度下InAs/GaAs量子点中载流子快速俘获的弛豫过程。在瞬态反射谱测量中,除观察到与GaAs有关的驰豫过程外(时间常数约为1ps),还观察到一个时间常数为几个至20ps的反射率上升过程。提出了一个物理模型,表明上述上升过程与光致载流子被InAs层快速俘获过程有关,并由此得到载流子的俘获时间,俘获时间随载流子浓度增加而减小。

国家自然科学基金,国家973计划

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18355

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103815

Idioma(s)

中文

Fonte

李晴;徐仲英;葛惟昆.InAs/GaAs低维结构中载流子快速俘获过程的研究,红外与毫米波学报,2000,19(5):343

Palavras-Chave #半导体物理
Tipo

期刊论文