SIN~+GaAs结构中的Franz-Keldysh振荡的傅里叶变换研究

利用傅里叶变换(FT)方法，对Franz-Keldysh振荡(FKO)的理论线性作了详细的数值模拟，并用光调制反射谱(PR)测量了一组本征层(I层)厚度不同的表面-本征层n-型重掺杂层(SIN~+)结构的GaAs样品的FKO.PR谱的FT分析表明，一部分样品的FT谱，包括其实部、虚部和模，与理论线性符合得比较好，由此求出轻空空(LH)和重空穴(HH)的约化质量平方根之比μ_1~(1/2)/(μ_h)~(1/2)对不同样品在0.805-0.816之间，同时也可以求出样品中的内建电场强度F_1，和调制光引起的调制电场δF=F_1-F_2。有一些样品的FT谱实部和虚部与理论线性差别很大，用FT的模仍可以给出有用的信息。

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