掺杂和热处理对纳ZnO薄膜气敏特性影响


Autoria(s): 李健; 李海兰; 田野; 宋淑芳
Data(s)

2002

Resumo

用真空蒸发法在玻璃和单晶硅片上制备纯Zn和掺杂Zn薄膜,然后在高于450 ℃条件下进行氧化、热处理(玻璃衬底)获得良好的纳米ZnO薄膜和掺杂ZnO薄膜。对单晶硅衬底上制备的纯Zn薄膜在高于800 ℃温度条件下进行液态源掺杂,获得掺B和P纳米ZnO薄膜。实验表明,掺杂和热处理使纳米ZnO薄膜的结构、导电性能得到改善,有效地降低了纳米ZnO薄膜的电阻,同时薄膜的气敏特性也得到较大的改善。

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18087

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103681

Idioma(s)

中文

Fonte

李健;李海兰;田野;宋淑芳.掺杂和热处理对纳ZnO薄膜气敏特性影响,传感器技术,2002,21(3):61-64

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文