GaN/GaAs(001)与GaN/Al_2O_3(0001)外延层光辅助湿法腐蚀行为的比较


Autoria(s): 沈晓明; 张秀兰; 孙元平; 赵德刚; 冯淦; 张宝顺; 张泽洪; 冯志宏; 杨辉
Data(s)

2002

Resumo

研究了用金属有机物气相外延(MOVPE)方法在GaAs(001)衬底上生长的立方相GaN(c-GaN)外延层的光辅助湿法腐蚀特性,并和生长在蓝宝石(0001)衬底上的六方相GaN(h-GaN)外延层的光辅助湿法座蚀特性进行了比较。实验发现c-GaN膜的暗态电流和光电流的变化不同于h-GaN膜的腐蚀电流的变化规律。对引起上述差异的原因进行了简单的讨论。

研究了用金属有机物气相外延(MOVPE)方法在GaAs(001)衬底上生长的立方相GaN(c-GaN)外延层的光辅助湿法腐蚀特性,并和生长在蓝宝石(0001)衬底上的六方相GaN(h-GaN)外延层的光辅助湿法座蚀特性进行了比较。实验发现c-GaN膜的暗态电流和光电流的变化不同于h-GaN膜的腐蚀电流的变化规律。对引起上述差异的原因进行了简单的讨论。

于2010-11-23批量导入

zhangdi于2010-11-23 13:08:16导入数据到SEMI-IR的IR

Made available in DSpace on 2010-11-23T05:08:16Z (GMT). No. of bitstreams: 1 5078.pdf: 252069 bytes, checksum: baaa9e02b840acc44fd05d73e5cd31f7 (MD5) Previous issue date: 2002

国家自然科学基金(批准号:698251 7),NSFC-RGC联合基金(批准号:5 1161953,N-HKU 28/ )

中国科学院半导体研究所

国家自然科学基金(批准号:698251 7),NSFC-RGC联合基金(批准号:5 1161953,N-HKU 28/ )

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18063

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103669

Idioma(s)

中文

Fonte

沈晓明;张秀兰;孙元平;赵德刚;冯淦;张宝顺;张泽洪;冯志宏;杨辉.GaN/GaAs(001)与GaN/Al_2O_3(0001)外延层光辅助湿法腐蚀行为的比较,半导体学报,2002,23(8):881-885

Palavras-Chave #光电子学
Tipo

期刊论文