IC测试系统精密定时器的新结构
| Data(s) |
2002
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| Resumo |
讨论了一种适合于VLSI的精密定时子系统的新结构。该结构将定时计数器分为高速和低速两部分，低速部分采用存储器代替分散的寄存器，既有利于集成，又降低了系统的成本。同时，新的精密定时子系统还解决了定时中不完整周期的问题。 讨论了一种适合于VLSI的精密定时子系统的新结构。该结构将定时计数器分为高速和低速两部分，低速部分采用存储器代替分散的寄存器，既有利于集成，又降低了系统的成本。同时，新的精密定时子系统还解决了定时中不完整周期的问题。 于2010-11-23批量导入 zhangdi于2010-11-23 13:07:55导入数据到SEMI-IR的IR Made available in DSpace on 2010-11-23T05:07:55Z (GMT). No. of bitstreams: 1 5040.pdf: 176496 bytes, checksum: f66492430f9e4bf6efe70ada95a60e40 (MD5) Previous issue date: 2002 中国科学院半导体研究所 |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
中文 |
| Fonte |
王东辉;施映;林雨.IC测试系统精密定时器的新结构,半导体学报,2002,23(11):1224-1227 |
| Palavras-Chave | #微电子学 |
| Tipo |
期刊论文 |
