扩展OSL方法校准微波双口测试夹具
| Data(s) |
2002
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|---|---|
| Resumo |
常规的OSL（open-short-load）校准方法具有简便易行的特点，被广泛应用于单端口测量的测试夹具的校准。在本文中，OSL方法被首次扩展应用于双端口夹具的校准，并消除该方法带来的相位不确定问题。通过实验证明这种方法与SOLT（short-open-load-thru）方法同样精确。 常规的OSL（open-short-load）校准方法具有简便易行的特点，被广泛应用于单端口测量的测试夹具的校准。在本文中，OSL方法被首次扩展应用于双端口夹具的校准，并消除该方法带来的相位不确定问题。通过实验证明这种方法与SOLT（short-open-load-thru）方法同样精确。 于2010-11-23批量导入 zhangdi于2010-11-23 13:07:54导入数据到SEMI-IR的IR Made available in DSpace on 2010-11-23T05:07:54Z (GMT). No. of bitstreams: 1 5036.pdf: 266346 bytes, checksum: ef80460ee43320a91ebe2a9b649b5699 (MD5) Previous issue date: 2002 国家杰出青年科学基金（No.698251 9） 中国科学院半导体研究所 国家杰出青年科学基金（No.698251 9） |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
中文 |
| Fonte |
陈振宇;王幼林;祝宁华.扩展OSL方法校准微波双口测试夹具,电子学报,2002,30(11):1711-1714 |
| Palavras-Chave | #光电子学 |
| Tipo |
期刊论文 |
