980 nm半导体激光器可靠性的研究现状分析


Autoria(s): 刘斌; 张敬明; 刘媛媛; 王晓薇; 方高瞻; 马骁宇; 肖建伟
Data(s)

2002

Resumo

本文介绍了提高980 nm半导体激光器可靠性的几种方案,并做了综合评述。进一步介绍了离子辅助镀膜技术在提高980 nm激光器可靠性方面的应用。

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17965

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103620

Idioma(s)

中文

Fonte

刘斌;张敬明;刘媛媛;王晓薇;方高瞻;马骁宇;肖建伟.980 nm半导体激光器可靠性的研究现状分析,激光杂志,2002,23(5):1-2

Palavras-Chave #半导体器件
Tipo

期刊论文