分子束外延生长ZnSe自组织量子点光、电行为研究


Autoria(s): 卢励吾; 王占国; Yang C L; Wang J; Ma Z H; Sou I K; Ge Weikun
Data(s)

2002

Resumo

分别应用光致发光、电容-电压和深能级瞬态傅里叶谱技术说细研究ZnSe自组织量子点样品的光学和电学行为。光致发光温度关系表明ZnSe量子点的光致发光热猝火过程机理。两步猝火过程的理论较好模拟和解释了相关的实验数据。电容-电压测量表明样品表观载流子积累峰出现的深度(样品表面下约100nm处)大约是ZnSe量子点层的位置。深能级瞬态傅里叶谱获得的ZnSe量子点电子基态能级位置为ZnSe导带下的0.11eV,这与ZnSe量子点光致发光热猝火模型得到的结果一致。

分别应用光致发光、电容-电压和深能级瞬态傅里叶谱技术说细研究ZnSe自组织量子点样品的光学和电学行为。光致发光温度关系表明ZnSe量子点的光致发光热猝火过程机理。两步猝火过程的理论较好模拟和解释了相关的实验数据。电容-电压测量表明样品表观载流子积累峰出现的深度(样品表面下约100nm处)大约是ZnSe量子点层的位置。深能级瞬态傅里叶谱获得的ZnSe量子点电子基态能级位置为ZnSe导带下的0.11eV,这与ZnSe量子点光致发光热猝火模型得到的结果一致。

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国家自然科学基金(批准号:6 76 8),国家重点基础研究发展项目(批准号:G2 683),香港科技大学(批准号:HKUST6135/97P)资助的课题

中国科学院半导体研究所;香港科技大学物理系

国家自然科学基金(批准号:6 76 8),国家重点基础研究发展项目(批准号:G2 683),香港科技大学(批准号:HKUST6135/97P)资助的课题

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17897

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103586

Idioma(s)

中文

Fonte

卢励吾;王占国;Yang C L;Wang J;Ma Z H;Sou I K;Ge Weikun.分子束外延生长ZnSe自组织量子点光、电行为研究,物理学报,2002,51(2):310-314

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文