确定VCSEL电热势及载流子自洽分布算法的研究


Autoria(s): 赵鼎; 林世鸣
Data(s)

2003

Resumo

分别使用准Fermi能级和pn结模型决定VCSEL的有源层压降,建立了两种自洽确定VCSEL中电势及载流子分布的方法,针对电极电压变化笔氧化层限制孔径变化的两种情况,在阈值附近对器件中的结电压分布、载流子浓度分布和注入有源层电流密度分布进行了计算;针对两者所得结果的差异进行了简要的分析,指出了二者的特点及适用范围。

国家自然科学基金资助项目(批准号

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17783

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103529

Idioma(s)

中文

Fonte

赵鼎;林世鸣.确定VCSEL电热势及载流子自洽分布算法的研究,半导体学报,2003,24(10):1093-1098

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文