GaN的声表面波特性研究


Autoria(s): 严莉; 陈晓阳; 何世堂; 李红浪; 韩培德; 陈振; 陆大成; 刘祥林; 王晓晖; 李昱峰; 袁海荣; 陆沅; 黎大兵; 朱勤生; 王占国
Data(s)

2003

Resumo

采用金属有机物化学气相外延方法在(0001)面蓝宝石上生长了高质量、高阻的未掺杂(0001)面GaN薄膜。为精确测量GaN薄膜材料的声表面波特性,在GaN薄膜表面上沉积了金属叉指换能器,叉指换能器采用等叉指结构,叉指的数目为40对,叉指间距为15μm。采用脉冲法测量了声表面波在自由表面和金属表面上的速度,并通过计算得到了机电耦合系数(κ^2)。所测量的声表面波速度(ν)为5667m/s,机电耦合系数(κ^2)为1.9%。

国家自然科学基金(6 86 1;699 6 2),国家重大基础研究项目(G2 683)

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17727

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103501

Idioma(s)

中文

Fonte

严莉;陈晓阳;何世堂;李红浪;韩培德;陈振;陆大成;刘祥林;王晓晖;李昱峰;袁海荣;陆沅;黎大兵;朱勤生;王占国.GaN的声表面波特性研究,发光学报,2003,24(2):161-164

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文