6H－SiC MOS结构电特性及其辐照效应的研究
| Data(s) |
2003
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|---|---|
| Resumo |
对SiC MOS结构辐照引起的电参数退化及其电特性进行了研究。结果说明 |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
中文 |
| Fonte |
尚也淳;张义门;张玉明;刘忠立.6H－SiC MOS结构电特性及其辐照效应的研究,电子与信息学报,2003,25(3):389-394 |
| Palavras-Chave | #微电子学 |
| Tipo |
期刊论文 |
