SOI CMOS模拟集成电路发展概述


Autoria(s): 刘忠立
Data(s)

2004

Resumo

从SOI CMOS模拟集成电路(IC)中存在的关键问题--浮体效应--及其影响出发,介绍了在解决浮体效应以后,已实现的有代表性的模拟集成电路的发展状况.特别指出了SOICMOS在实现RF电路及SOC芯片中的优点.

从SOI CMOS模拟集成电路(IC)中存在的关键问题--浮体效应--及其影响出发,介绍了在解决浮体效应以后,已实现的有代表性的模拟集成电路的发展状况.特别指出了SOICMOS在实现RF电路及SOC芯片中的优点.

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中国科学院,半导体研究所

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17485

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103380

Idioma(s)

中文

Fonte

刘忠立.SOI CMOS模拟集成电路发展概述,微电子学,2004,34(4):384-389

Palavras-Chave #微电子学
Tipo

期刊论文