SOI集成电路的ESD保护技术研究进展


Autoria(s): 姜凡; 刘忠立
Data(s)

2004

Resumo

近年来,随着SOI技术的快速发展,SOI集成电路的ESD保护已成为一个主要的可靠性设计问题.介绍了SOI ESD保护器件方面的最新进展,阐述了在SOI ESD保护器件设计和优化中出现的新问题,并进行了详细的讨论.

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17417

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103346

Idioma(s)

中文

Fonte

姜凡;刘忠立.SOI集成电路的ESD保护技术研究进展,微电子学,2004,34(5):497-500,513

Palavras-Chave #微电子学
Tipo

期刊论文