双异质外延Si/Al_2O_3/Si薄膜制作的CMOS器件


Autoria(s): 昝育德; 王俊; 李瑞云; 韩秀峰; 王建华; 于芳; 刘忠立; 王玉田; 王占国; 林兰英
Data(s)

2004

Resumo

报道了利用高真空MOCVD外延生长γ氧化铝的技术和利用SOS CMOS的成熟工艺制作双异质外延Si/γ-Al2O3/Si单晶薄膜以及用其研制Si/γ-Al2O3/Si CMOS场效应晶体管、Si/γ-Al2O3/Si CMOS集成电路的初步结果.

报道了利用高真空MOCVD外延生长γ氧化铝的技术和利用SOS CMOS的成熟工艺制作双异质外延Si/γ-Al2O3/Si单晶薄膜以及用其研制Si/γ-Al2O3/Si CMOS场效应晶体管、Si/γ-Al2O3/Si CMOS集成电路的初步结果.

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中国科学院半导体研究所

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17383

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103329

Idioma(s)

中文

Fonte

昝育德;王俊;李瑞云;韩秀峰;王建华;于芳;刘忠立;王玉田;王占国;林兰英.双异质外延Si/Al_2O_3/Si薄膜制作的CMOS器件,半导体学报,2004,25(7):824-830

Palavras-Chave #微电子学
Tipo

期刊论文