热氧化方法改善硅干法刻蚀波导的表面粗糙度


Autoria(s): 陈媛媛; 夏金松; 樊中朝; 余金中
Data(s)

2004

Resumo

提出了一种热氧化的方法来改善干法刻蚀硅波导的表面质量.通过Suprem二维工艺模拟程序对氧化过程的物理模型进行了分析.用实验证实了该方法的可行性并与模拟结果进行了比较.实验中将硅波导的表面粗糙度由65.4nm降低到了8.8nm.另外讨论了分次氧化方法的利弊.

国家自然科学基金,国家重点基础研究发展规划,国家高技术研究发展计划

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17275

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103275

Idioma(s)

中文

Fonte

陈媛媛;夏金松;樊中朝;余金中.热氧化方法改善硅干法刻蚀波导的表面粗糙度,半导体学报,2004,25(11):1544-1548

Palavras-Chave #光电子学
Tipo

期刊论文