Mn注入 n型 Ge单晶的特性研究


Autoria(s): 刘力锋; 陈诺夫; 尹志岗; 杨霏; 周剑平; 张富强
Data(s)

2005

Resumo

采用离子能量为 100keV,剂量为 3× 1016cm- 2的离子注入技术,室温下往 n型 Ge( 111)单晶 衬底注入 Mn+离子,注入后的样品进行 400℃热处理.利用 X-射线衍射法 (XRD)和原子力显微 镜( AFM)对注入后的样品进行了结构和形貌分析, 俄歇电子能谱法 (AES)进行了组分分析,交变 梯度样品磁强计( AGM)进行了室温磁性测量.结果表明原位注入样品的结构是非晶的,热处理后 发生晶化现象.没有在样品中观察到新相形成. Mn离子较深的注入进 Ge衬底,在 120 nm处 Mn原子百分比浓度达到最高为 8%.热处理后的样品表现出了室温铁磁特性.

采用离子能量为 100keV,剂量为 3× 1016cm- 2的离子注入技术,室温下往 n型 Ge( 111)单晶 衬底注入 Mn+离子,注入后的样品进行 400℃热处理.利用 X-射线衍射法 (XRD)和原子力显微 镜( AFM)对注入后的样品进行了结构和形貌分析, 俄歇电子能谱法 (AES)进行了组分分析,交变 梯度样品磁强计( AGM)进行了室温磁性测量.结果表明原位注入样品的结构是非晶的,热处理后 发生晶化现象.没有在样品中观察到新相形成. Mn离子较深的注入进 Ge衬底,在 120 nm处 Mn原子百分比浓度达到最高为 8%.热处理后的样品表现出了室温铁磁特性.

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国家自然科学基金,国家重大基础研究计划项目

中国科学院半导体研究所

国家自然科学基金,国家重大基础研究计划项目

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17197

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103236

Idioma(s)

中文

Fonte

刘力锋;陈诺夫;尹志岗;杨霏;周剑平;张富强.Mn注入 n型 Ge单晶的特性研究,功能材料与器件学报,2005,11(1):15-18

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文