GaN生长速率的研究


Autoria(s): 金瑞琴; 赵德刚; 刘建平; 张纪才; 杨辉
Data(s)

2005

Resumo

采用在位监控方法研究了MOCVD系统中GaN材料的外延生长速率与NH3流量、TMGa流量、Ⅴ/Ⅲ比等生长参数的关系.GaN生长速率随NH3流量的提高先增加后减小,而随TMGa流量的增加线性的增加.在不同NH3流量的情况下,GaN生长速率随TMGa流量增加的速率不同.GaN的生长速率与Ⅴ/Ⅲ比没有直接的关系,而与NH3,TMGa等条件有关.实验结果表明,MOCVD系统中存在着较强的预反应.预反应的程度与TMGa的流量成正比.

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17077

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103176

Idioma(s)

中文

Fonte

金瑞琴;赵德刚;刘建平;张纪才;杨辉.GaN生长速率的研究,半导体学报,2005,26(4):726-729

Palavras-Chave #光电子学
Tipo

期刊论文