带胶剥离工艺粘附性实验研究


Autoria(s): 姚飞; 薛春来; 成步文
Data(s)

2005

Resumo

带胶剥离是微电子工艺的常见工艺步骤.文章通过对带胶剥离的样品进行退火实验,研究了电极蒸发金属和不同基底的粘附特性.实验表明,带胶剥离工艺制备的电极,其金属与衬底的粘附性差,退火过程产生气泡,严重影响了器件的特性.蒸发温度、蒸发室真空度,以及基片表面的清洁度与气泡产生有密切的关系.从这几点入手,提出了相应的改进方法.

国家重大基础研究发展(973)计划资助项目,国家高技术研究发展(863)计划资助项目

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/16997

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103136

Idioma(s)

中文

Fonte

姚飞;薛春来;成步文.带胶剥离工艺粘附性实验研究,微电子学,2005,35(5):513-516

Palavras-Chave #光电子学
Tipo

期刊论文