有缺陷和无缺陷量子点内应变分布的比较与分析


Autoria(s): 杨红波; 俞重远; 刘玉敏; 黄永箴
Data(s)

2005

Resumo

阐述了量子点内能级结构与应变的关系,用ANSYS7.1计算了有缺陷和无缺陷两种情况下

阐述了量子点内能级结构与应变的关系,用ANSYS7.1计算了有缺陷和无缺陷两种情况下

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863计划,中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点联合实验室开放课题资助项目

北京邮电大学理学院;中国科学院半导体研究所

863计划,中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点联合实验室开放课题资助项目

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/16949

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103112

Idioma(s)

中文

Fonte

杨红波;俞重远;刘玉敏;黄永箴.有缺陷和无缺陷量子点内应变分布的比较与分析,高技术通讯,2005,15(6):46-49

Palavras-Chave #光电子学
Tipo

期刊论文