慢正电子对ZnO中本征缺陷的研究


Autoria(s): 彭成晓; 翁惠民; 杨晓杰; 叶邦角; 周先意; 韩荣典
Data(s)

2005

Resumo

利用慢正电子研究了不同氧含量时射频磁控反应溅射制备的ZnO样品,观察到ZnO中本征缺陷(Vo,VZn)随混合气体中O2比例(PO2)的变化关系.结果表明

国家自然科学基金项目

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/16845

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/103060

Idioma(s)

中文

Fonte

彭成晓;翁惠民;杨晓杰;叶邦角;周先意;韩荣典.慢正电子对ZnO中本征缺陷的研究,核技术,2005,28(11):841-844

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文