MS/RF CMOS工艺兼容的光电探测器模拟与测试


Autoria(s): 雷晓荃; 毛陆虹; 陈弘达; 黄家乐
Data(s)

2006

Resumo

设计了一种新型的与MS/RF CMOS工艺全兼容、带深n阱(DNW)、浅沟槽隔离(STI)的双光电探测器,分析了其工作机理,用器件模拟软件ATLAS对其暗电流、响应电流、光调制频率响应和波长响应进行了模拟.采用TSMC 0.18 μm MS/RF CMOS工艺进行了流片,对芯片进行了暗电流和响应度的测试.模拟和测试结果均表明,该探测器与常规双光电探测器相比,具有较低的暗电流和较高的响应度.

设计了一种新型的与MS/RF CMOS工艺全兼容、带深n阱(DNW)、浅沟槽隔离(STI)的双光电探测器,分析了其工作机理,用器件模拟软件ATLAS对其暗电流、响应电流、光调制频率响应和波长响应进行了模拟.采用TSMC 0.18 μm MS/RF CMOS工艺进行了流片,对芯片进行了暗电流和响应度的测试.模拟和测试结果均表明,该探测器与常规双光电探测器相比,具有较低的暗电流和较高的响应度.

于2010-11-23批量导入

zhangdi于2010-11-23 13:02:23导入数据到SEMI-IR的IR

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国家"863"计划资助项目,国家自然科学基金

天津大学电子信息工程学院;中国科学院半导体研究所

国家"863"计划资助项目,国家自然科学基金

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/16443

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/102260

Idioma(s)

中文

Fonte

雷晓荃;毛陆虹;陈弘达;黄家乐.MS/RF CMOS工艺兼容的光电探测器模拟与测试,光电子·激光,2006,17(12):1413-1417

Palavras-Chave #光电子学
Tipo

期刊论文