InP中深能级缺陷的产生与抑制现象
Data(s) |
2007
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Resumo |
研究了原生和高温退火处理后非掺n型和半绝缘InP单晶材料中产生的缺陷.在磷气氛下退火后,n型和半绝缘InP单晶中均明显产生相当数量的深能级缺陷,而在磷化铁气氛下退火后,InP的缺陷数量明显减少.在退火过程中缺陷的产生与磷和铁的内扩散有直接关系.向内扩散的磷原子和铁原子占据晶格中铟位后,分别产生反位缺陷和铁深受主.实验结果表明,铁通过扩散充分占据了铟位,抑制了铟空位、磷反位等缺陷的形成,而磷气氛下退火后产生的缺陷有铟空位、磷反位等.对InP中的缺陷属性进行了分析. 研究了原生和高温退火处理后非掺n型和半绝缘InP单晶材料中产生的缺陷.在磷气氛下退火后,n型和半绝缘InP单晶中均明显产生相当数量的深能级缺陷,而在磷化铁气氛下退火后,InP的缺陷数量明显减少.在退火过程中缺陷的产生与磷和铁的内扩散有直接关系.向内扩散的磷原子和铁原子占据晶格中铟位后,分别产生反位缺陷和铁深受主.实验结果表明,铁通过扩散充分占据了铟位,抑制了铟空位、磷反位等缺陷的形成,而磷气氛下退火后产生的缺陷有铟空位、磷反位等.对InP中的缺陷属性进行了分析. 于2010-11-23批量导入 zhangdi于2010-11-23 13:02:09导入数据到SEMI-IR的IR Made available in DSpace on 2010-11-23T05:02:09Z (GMT). No. of bitstreams: 1 4119.pdf: 289421 bytes, checksum: 9795a7b30d3573c0d634d88e1bb4e3da (MD5) Previous issue date: 2007 中国科学院半导体研究所 |
Identificador | |
Idioma(s) |
中文 |
Fonte |
赵有文;董志远.InP中深能级缺陷的产生与抑制现象,物理学报,2007,56(3):1476-1479 |
Palavras-Chave | #半导体材料 |
Tipo |
期刊论文 |