掺Er/Er+O的GaN薄膜光学性质的研究


Autoria(s): 宋淑芳; 陈维德; 许振嘉; 徐叙瑢
Data(s)

2007

Resumo

利用Raman散射谱研究了GaN注Er以及Er+O共注样品的振动模,并讨论了共注入O对Er离子发光的影响. 在Raman散射谱中,对于注Er的GaN样品出现了300 cm~(-1)和670 cm~(-1)两个新的Raman峰,而对于Er+O共注样品,除了上述两个峰外,在360 cm~(-1)处出现了另外一个新的峰,其中300 cm~(-1)峰可以用disorder-activated Raman scattering (DARS)来解释,670 cm~(-1)峰是由于与N空位相关的缺陷引起的,而360 cm~(-1)峰是由O注入引起的缺陷络合物产生的. 由于360 cm~(-1)模的缺陷出现,从而导致Er+O共注入GaN薄膜红外光致发光(PL)强度的下降

国家自然科学基金,国家重点基础研究发展计划项目(973计划),中国博士后科学基金资助课题资助的课题

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/16399

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/102238

Idioma(s)

中文

Fonte

宋淑芳;陈维德;许振嘉;徐叙瑢.掺Er/Er+O的GaN薄膜光学性质的研究,物理学报,2007,56(3):1621-1626

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文