表面处理对p-GaN欧姆接触的影响


Autoria(s): 郭德博; 梁萌; 范曼宁; 师宏伟; 刘志强; 王国宏; 王良臣
Data(s)

2007

Resumo

分别用稀盐酸、王水以及(NH_4)_2S溶液处理p-GaN表面,通过测试样品表面Ols的X射线光电子能谱(XPS),比较了这些溶液去除p-GaN表面氧化层的能力;在经不同溶液处理后的样品表面,以相同的条件制作Ni/Au电极,并测试其与p-GaN的比接触电阻,结果表明经稀盐酸处理后的样品表面,由于其氧含量较高,不能与Ni/Au形成良好的欧姆接触,而经王水和(NH_4)_2S溶液处理后的p-GaN表面,能与Ni/Au形成良好的欧姆接触;最后,通过比较样品表面的Ga/N原子浓度比,探讨了王水处理p-GaN表面能够形成良好欧姆接触的原因.

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/16197

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/102137

Idioma(s)

中文

Fonte

郭德博;梁萌;范曼宁;师宏伟;刘志强;王国宏;王良臣.表面处理对p-GaN欧姆接触的影响,半导体学报,2007,28(11):1811-1814

Palavras-Chave #微电子学
Tipo

期刊论文