AlGaN／GaN异质结紫外探测器
| Data(s) |
2007
|
|---|---|
| Resumo |
采用p-AlGa1-xN／i-GaN／n-GaN异质结构成功制备了含铝组分分别为0．1和0．07的正照射可见盲紫外探测器，并分别测试了它们的伏安特性曲线和光电响应光谱。对于Al组分为0．1的器件，在零偏压处出现了板低的暗电流密度，表明器件具有非常高的信噪比。高分辨率X射线衍射仪对材料的测试结果表明，高铝组分（0．1）窗口层薄膜材料的晶体质量较差，导致暗电流增大，而其窗口层的窗口选择作用则可以得到较高的响应率和较宽的响应波段。 采用p-AlGa1-xN／i-GaN／n-GaN异质结构成功制备了含铝组分分别为0．1和0．07的正照射可见盲紫外探测器，并分别测试了它们的伏安特性曲线和光电响应光谱。对于Al组分为0．1的器件，在零偏压处出现了板低的暗电流密度，表明器件具有非常高的信噪比。高分辨率X射线衍射仪对材料的测试结果表明，高铝组分（0．1）窗口层薄膜材料的晶体质量较差，导致暗电流增大，而其窗口层的窗口选择作用则可以得到较高的响应率和较宽的响应波段。 于2010-11-23批量导入 zhangdi于2010-11-23 13:01:18导入数据到SEMI-IR的IR Made available in DSpace on 2010-11-23T05:01:18Z (GMT). No. of bitstreams: 1 3975.pdf: 131266 bytes, checksum: 000f85e2878cddfdac3dcebfc78a5892 (MD5) Previous issue date: 2007 上海市科学技术委员会资助项目（ 4dg 5116 ） 中国科学院上海技术物理研究所;中国科学院北京半导体研究所 上海市科学技术委员会资助项目（ 4dg 5116 ） |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
中文 |
| Fonte |
陈俊;许金通;李雪;陈亮;赵德刚;李向阳.AlGaN／GaN异质结紫外探测器,红外与激光工程,2007,36(6):917-919 |
| Palavras-Chave | #光电子学 |
| Tipo |
期刊论文 |
