铟掺杂ZnO体单晶的生长及其性质


Autoria(s): 张璠; 赵有文; 董志远; 张瑞; 杨俊
Data(s)

2008

Resumo

研究了In掺杂n型ZnO体单晶的化学气相传输法生长和材料性质.利用霍尔效应、X射线光电子能谱、光吸收谱、喇曼散射、阴极荧光谱等手段对晶体的特性和缺陷进行了分析.掺In后容易获得浓度为10~(18)~10~(19)cm~(-3)的n型ZnO单晶,掺入杂质的激活效率很高.随着掺杂浓度的提高,ZnO单晶的带边吸收和电学性质等发生明显的变化.分析了掺In-ZnO单晶的缺陷及其对材料性质的影响.

国家自然科学基金资助项目(批准号

Identificador

http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/15971

http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/102024

Idioma(s)

中文

Fonte

张璠;赵有文;董志远;张瑞;杨俊.铟掺杂ZnO体单晶的生长及其性质,半导体学报,2008,29(8):1540-1543

Palavras-Chave #半导体材料
Tipo

期刊论文