1300 nm超辐射发光二极管寿命测试
Data(s) |
2008
|
---|---|
Resumo |
作为光纤陀螺用光源的超辐射发光二极管(SLD)随着工作时间的延续,其性能会发生退化。采用加速老化的实验方法来估算InGaAsP SLD管芯的工作寿命。分别在环境温度373 K和358 K下对5只SLD管芯进行加速老化,并通过对P-t曲线拟合来推算和估计管芯的老化速率和激活能。计算出了器件的激活能平均值约为0.82 eV,SLD管芯在室温下的工作寿命超过10~6 h,可以满足光纤陀螺用光源的寿命要求。对影响SLD管芯可靠性的因素以及管芯的退化机理进行了分析,为研制高可靠性的超辐射发光二极管提供了理论基础。 |
Identificador | |
Idioma(s) |
中文 |
Fonte |
孙孟相;谭满清;王鲁峰.1300 nm超辐射发光二极管寿命测试,光学学报,2008,28(10):1994-1997 |
Palavras-Chave | #半导体器件 |
Tipo |
期刊论文 |