退火温度对纳米TiO2薄膜微结构的影响

---

Autoria(s): 胡晓云; 李婷; 张德恺; 白晋涛; 侯洵

Data(s)	2005
Identificador	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/6788 http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/70545
Fonte	胡晓云；李婷；张德恺；白晋涛；侯洵.退火温度对纳米TiO2薄膜微结构的影响,电子元件与材料,2005,24(7):12-16
Palavras-Chave	#电子技术
Tipo	期刊论文